口腔

基础篇

作者:首都医科大学附属北京口腔医院 白玉兴 来源:中国医学论坛报 日期:2015-03-17
导读

         在进行口腔正畸治疗前,正畸学科的基础知识和临床知识都是全科口腔医师必须掌握的。基础知识包括颅颌面生长发育知识、错(牙合)畸形的病因学、X线头影测量、正畸生物学基础、牙齿移动的矫治力学、支抗的设计与应用、正畸材料学等;临床知识包括矫治的目标、错(牙合)畸形的检查与分类、错(牙合)畸形的诊断与分析、矫治器及矫治技术、正畸矫治方法、正畸相关交叉学科、复发与保持等。

  概述

  在进行口腔正畸治疗前,正畸学科的基础知识和临床知识都是全科口腔医师必须掌握的。基础知识包括颅颌面生长发育知识、错(牙合)畸形的病因学、X线头影测量、正畸生物学基础、牙齿移动的矫治力学、支抗的设计与应用、正畸材料学等;临床知识包括矫治的目标、错(牙合)畸形的检查与分类、错(牙合)畸形的诊断与分析、矫治器及矫治技术、正畸矫治方法、正畸相关交叉学科、复发与保持等。

  颅颌面生长发育

  正畸治疗时应根据颅颌面生长发育情况对患者的错(牙合)畸形进行早期诊断、早期预防、早期阻断,且颅颌面生长发育的知识与选择矫治时机、矫治的方法及对预后进行判断均有密切的关系。

  医师在进行正畸前应掌握颅颌面生长发育规律,如了解上颌骨扩弓与腭中缝发育的关系——随年龄的增长,腭中缝的形态越来越复杂,其骨化程度增大,因此年龄越大,上颌骨扩弓效果越差;再如不同的生长发育阶段采取何种治疗设计,以及不同性别的生长发育阶段特征――女性生长高峰期(10~14.5岁)略早于男性(12~17岁),故进行早期生长改良矫治时,女性应略早于男性。

  X线头影测量与骨面型

  头影测量

  通过对X线片进行头影测量,可研究患者的生长发育,对其错(牙合)畸形进行诊断与分析,从而确定矫治方案,观察牙颌面的变化,同时X线头影测量分析也可辅助正颌外科的诊断与矫治设计。全科医师如希望开展正畸治疗,应了解头影测量的项目正常值及其所反映的相互关系(表1)。

  矢状骨面型

  骨性Ⅰ类为ANB角0°~5°(替牙期);骨性Ⅱ类ANB角>5°,提示下颌相对上颌位置靠后;骨性Ⅲ类,ANB角<0°,提示下颌相对上颌位置靠前。

  垂直骨面型

  平均生长型:MP/FH为26°~36°(替牙期);垂直生长型:MP/FH>36°,提示下颌平面比较陡;水平生长型:MP/FH<26°,提示下颌平面相对水平。

  骨面型与矫治难度

  全科医师开展正畸治疗应遵循从简单到复杂的规律,较简单的情况有骨性Ⅰ类与平均生长型,较复杂的情况有骨性Ⅱ类及骨性Ⅲ类,垂直生长型及水平生长型。同样,垂直向和矢状向的关系、软组织侧貌等也是全科医师在开展正畸治疗前应了解的知识。

  正畸生物力学

  正畸生物力学是正畸的基础知识,在正畸治疗前,医师应了解相关作用力的道理,如力的矢量性与平行四边形法则等。根据作用效果,正畸矫治力可以分为两类――正畸力与矫形力,其作用对象与效果有所不同(表2)。

  支抗的概念

  支抗是正畸专业中非常重要的概念。支抗的概念为,在矫治过程中,任何施加于牙齿使其移动的力必然产生一个大小相同、方向相反的力,能抵抗矫治力反作用的结构称为“支抗”。

  支抗控制是正畸治疗的关键因素,支抗控制的目的为使希望移动的牙齿发生最大的移动,使不希望移动的牙齿发生最小的移动。故全科医师若希望开展正畸治疗,应充分的了解什么是支抗,并周密地设计支抗类型,包括颌内支抗、颌间支抗及颌外支抗。

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